製品紹介：導電率測定装置　ファブリペロー共振器　20 GHz – 170 GHz

• 高周波基板用の銅箔の詳細評価に最適：σ > 0.8を再現性良く測定可能
• 銅箔単体・樹脂に張ったもの、いずれも評価可能
• 自動測定でバンド内の周波数特性を一気に取得

銅箔の導電率は基板の伝送損失において重要な要素です。 特にミリ波領域では、銅箔の表面粗さによって導電率が大きく異なるため、 実測評価が不可欠です。しかし、十分な性能を持った測定装置がなかったため、 銅箔単体での有効な評価は難しく、時間と労力をかけて基板上に伝送路を製作して 誘電損を含む損失を評価するしかありませんでした。
EMラボは、ファブリペロー共振器を導電率測定用に最適化することで、銅箔導電率の詳細評価を可能にしました。 この革新的なアプローチにより、低損失基板の開発効率が格段に向上します。