広帯域・低価格ソリューション
比較的少ない投資で誘電率・透磁率測定の両方を広い周波数範囲で実現できます。比較的小さな試料でも測定できることもメリットです。 Keysight材料測定スイート N1500Aと組み合わせて効率的で信頼性の高い材料測定が行えます。EMラボ製フリースペースソフトウェア または Keysight製材料測定スイート N1500Aと組み合わせて効率的で信頼性の高い材料測定が行えます。
同軸サンプルホルダ
- 1台で0.5～18 GHzまでカバー
- 粉体測定にも対応（オプション）
装置の取り扱いにより誤差や不具合を生じる可能性が高いため、 高周波におけるケーブルやコネクタの扱いに慣れた方向けの装置です。また、別途Keysight社製の校正キットを用いて校正を実行する必要があります。
導波管サンプルホルダ
- ホルダーやSHORT板の固定がレバー一本の操作で可能
- 効率的で再現性の高い測定が可能
導波管サンプルホルダにはTRL校正用のSHORTとLINEが含まれます。
測定技術
測定の原理概要については、以下の記事で解説していますので、是非ご覧ください。
測定例
製品ラインナップ
同軸サンプルホルダ
| 型番 | 品名 | 対応周波数 [GHz] | ホルダ外導体内径 [mm] | ホルダ中心導体外径 [mm] | ホルダ長 [mm] |
|---|---|---|---|---|---|
| CSF-APC7 | 7 mm 同軸サンプルホルダーセット (0.5 - 18 GHz) | 0.5~18 | 7.00 | 3.04 | 10, 40 |
接続用コネクタは 3.5mm(f) です。
導波管サンプルホルダ
| 型番 | 品名 | 対応周波数 [GHz] | 導波管規格 | ホルダ内寸 （横 x 縦 [mm]） | ホルダ長 [mm] |
|---|---|---|---|---|---|
| WSF-X | Xﾊﾞﾝﾄﾞ導波管ｻﾝﾌﾟﾙﾎﾙﾀﾞｰﾌｨｸｽﾁｬ (8.2 - 12.4 GHz) | 8.2~12.4 | WR90 | 22.86 x 10.16 | 10 |
| WSF-P | Pﾊﾞﾝﾄﾞ導波管ｻﾝﾌﾟﾙﾎﾙﾀﾞｰﾌｨｸｽﾁｬ (12.4 - 18 GHz) | 12.4~18 | WR62 | 15.80 X 7.90 | 7.5 |
| WSF-K | Kﾊﾞﾝﾄﾞ導波管ｻﾝﾌﾟﾙﾎﾙﾀﾞｰﾌｨｸｽﾁｬ (18 - 26.5 GHz) | 18~26.5 | WR42 | 10.67 X 4.32 | 5 |
| WSF-R | Rﾊﾞﾝﾄﾞ導波管ｻﾝﾌﾟﾙﾎﾙﾀﾞｰﾌｨｸｽﾁｬ (26.5 - 40 GHz) | 26.5~40 | WR28 | 7.11 X 3.56 | 3 |
接続用コネクタはすべて 2.92mm(f) です。
試料形状
同軸サンプルホルダ
製品のホルダサイズに収まるドーナツ状試料をご用意ください。
試料の外径が7.00mmを超えると治具に入らなくなります。
同様に、試料の内径が3.04mmを下回ると治具に入らなくなります。
導波管サンプルホルダ
製品のホルダサイズ（ホルダ内寸 x ホルダ長）に収まる直方体をご用意ください。
システム構成例
- Keysight StreamlineシリーズUSBネットワーク・アナライザ P5007B (44 GHz)
- Keysight材料測定スイート N1500A
- 導波管サンプルホルダ・フィクスチャ WSF-R (26.5 – 40 GHz)
- 接続用ケーブル 2.92 mm
- Windows PC