測定結果
- 各銅箔をスプリットシリンダ共振器(10,20,28,40GHz)、ファブリペロー共振器(ブロードバンド、Dバンド)で3回ずつ測定

ここがポイント!
- 銅箔によって周波数特性はさまざま!実測が非常に重要!
- 高周波になると導電率が低下していく
- 装置を切り替えて測定しても、測定値に段差は見られず10~170GHzまで連続的なデータを取得可能
- いずれの装置でも非常に高い再現性を示している
基板用銅箔の表面粗さによる導電率の違いが170 GHzまで測定可能です。 銅箔単体・樹脂に接着した状態、いずれも評価可能です。 導電率は、表面粗さによって様々な周波数特性を示すため、実際に使用する周波数を含む複数の周波数点で評価することが重要です。
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システム構成
- 導電率用ファブリペロー共振器 FP-CND-BB/FP-CND-D
- 導電率用スプリットシリンダ共振器 CR-CND-010/CR-CND-028
- 導電率測定ソフトウェア FP-CND-MA/CR-CND-MA
- ネットワークアナライザ: N5290A(キーサイト・テクノロジー社製)
- Mini VNAX周波数拡張モジュール:N5262BW06(キーサイト・テクノロジー社製)
測定した試料
- 銅箔